Propriété électrique
Propriétés électriques et thermoélectriques – Caractérisation précise des matériaux
Caractérisation précise des propriétés électriques et thermoélectriques des matériaux.
Propriété électrique
LSR – Caractérisation thermoélectrique de haute précision
Les systèmes LSR de LINSEIS permettent la mesure précise et simultanée du coefficient Seebeck, de la résistance électrique et, via la méthode Harman, de l’indice de performance thermoélectrique ZT. Conçus pour une large plage de températures et des géométries d’échantillons variées, ils offrent des résultats reproductibles et fiables pour la recherche, le développement et la caractérisation avancée des matériaux thermoélectriques.
HCS – Analyse de l’effet Hall pour la caractérisation des semi-conducteurs
Les systèmes HCS de LINSEIS permettent la caractérisation précise des propriétés électriques fondamentales des semi-conducteurs et des couches minces, telles que la densité et la mobilité des porteurs de charge. Basés sur l’analyse de l’effet Hall sur une large plage de températures et de champs magnétiques, ils offrent des résultats fiables et reproductibles pour la recherche, le développement et l’analyse avancée des matériaux électroniques.
TEG L34 – Testeur pour générateurs thermoélectriques et éléments Peltier
Le TEG L34 de LINSEIS est un système de mesure avancé pour la caractérisation complète des générateurs thermoélectriques (TEG) et des modules Peltier sous conditions réelles d’utilisation. Il permet l’évaluation précise des performances, du rendement et du comportement énergétique en appliquant des gradients thermiques ou des courants contrôlés. Grâce à des modes de fonctionnement flexibles et à une acquisition rapide des données, le TEG L34 constitue une solution performante pour la recherche, le développement et les essais de long terme des systèmes thermoélectriques.
Analyse des couches minces
Les solutions LINSEIS pour l’analyse des couches minces permettent la détermination précise des propriétés physiques en fonction de l’épaisseur et de la température. Elles répondent aux exigences spécifiques des technologies à couches minces dans la recherche et l’industrie, notamment pour les semi-conducteurs, les matériaux fonctionnels et les applications haute performance.